AIO school 1997: poeder- en polymeerdiffractie

AIO school 1997: poeder- en polymeerdiffractie

  • Inlichtingen en opgave: R. Olthof-Hazekamp, olthof@chem.ruu.nl
  • Kosten: Dfl 125.- voor medewerkers universiteit
    Dfl 1000.- voor medewerkers industrie.
  • Plaats: Utrecht/Almelo
  • Datum: 27 – 31 oktober 1997

Programma

Maandag 27 oktober, F.A.F.C. Went Gebouw, zaal OC105 (mo) / zaal Z617 (mi)
10.00-10.15 Koffie
10.15-10.30 Opening / kennismaking
10.30-12.30 Inleiding Diffractie, Fourier Analyse, Convolutie
Prof. Dr D. Feil, UT
13.30-14.15 Historie van de Poederdiffractie en Algemene Inleiding
Drs J.W. Visser, Delft
14.30-15.15 Fasen Identificatie
Drs J.W. Visser, Delft
15.30-17.00 Microstructuren
Dr. R. Delhez, TUD
Dinsdag 28 oktober, H.R. Kruyt Gebouw, zaal O108
9.30-10.00 Inleiding door Dr D. Reefman
10.00-11.30 Crystallographic Textures
Dr D. Reefman, Philips; Ing. L. Woning, Hoogovens
11.30-12.30 Profile Fitting of Powder Diffraction Patterns
Ing. E.J. Sonneveldt, UvA
13.30-15.30 Indexing of Powder Diffraction Patterns
Ing. E.J. Sonneveldt, UvA
15.30-16.20 Structure Determination from Powder Diffraction Data (I)
Dr. R. Peschar, UvA
16.20-17.00 Structure Determination from Powder Diffraction Data (II)
Dr. R.B. Helmholdt
Woensdag 29 oktober, H.R. Kruyt Gebouw, zaal O108
9.30-11.00 Introductie Polymeerdiffractie
Dr E.A. Klop, AKZO
11.00-12.30 Polymer-diffraction (I): Point Detector and Linear PSD
Dr A. Iberl, Siemens
13.30-15.00 Polymer-diffraction (II): 2-Dimensional Detector and Gadds-software
Dr A. Iberl, Siemens
Donderdag 30 oktober, H.R. Kruyt Gebouw, zaal O108
9.30- 9.45 Inleiding door Dr. D. Reefman
9.45-10.45 Praktische Toepassingen Polymeerdiffractie: vezels
Dr. E.A. Klop, AKZO
10.45-12.30 Applications of Polymeerdiffraction: WAXS, SAXS and DCS
Ing. J.B. van Mechelen, Shell
13.30-15.00 Rietveld Analyse in Poederdiffractie
Dr. F. Mulder, IRI Delft
15.30-16.30 Neutronendiffractie
Dr. F. Mulder, IRI Delft
Vrijdag 31 oktober, Philips Analytical X-ray, Almelo
10.30-11.00 Inleiding door Dr. A.J. Kinneging
11.00-12.30 Quantitatieve Fasen Analyse
Drs. C.A. Reiss en dr A.C. Vermeulen, Philips
13.30-14.30 X-Ray Optics for Materials Research
Dr J. Bethke en dr. V. Kogan, Philips
14.30-16.00 Rondleiding
16.00-16.30 Diploma uitreiking; afsluiting